مقدمه: در اوایل سال 2004 یک موضوع مشخص شد که به موجب آن مجموعه ابزارهای متعدد پروسه˛ نشان داد که تجربه روند زمانی بیش از حد پایین با آزمایشات مکرر نمی تواند برای مواد خارجی مانیتور ویفر (FM) در آی بی ام 300 میلی متر منجر به تسهیل ساخت نیمه هادی شود.درHopewell Junction معیار ردیابی که به ...